| Session POSTERS | 
		
		
			| 1 | 
			Alfonzo Rosinel 
			Réactivité et propriétés de molybdates et niobates pour de nouveaux TCO | 
		
		
			| 2 | 
			Bajoun Mbajoun Wilfried 
			Surface structure of Nd-Fe-B permanent magnets | 
		
		
			| 3 | 
			Besland Marie-Paule 
			A la recherche du Ti3+ dans des films de Titanate de Lanthane obtenus par co-pulvérisation magnétron réactive | 
		
		
			| 4 | 
			Boisron Olivier 
			Chemically ordered FeRh nanocrystals on perovskite oxide subtrate studied by in situ UHV spectroscopy | 
		
		
			| 5 | 
			Bouttemy Muriel 
			New developments for the characterization of GaN based HEMT devices by electron spectroscopies | 
		
		
			| 6 | 
			Debeaufort Louis 
			Spectres de référence d’acides aminés par XPS, CryoXPS et TOF-SIMS. Influence de la préparation des échantillons et des conditions d’acquisition | 
		
		
			| 7 | 
			Fernandez Vincent 
			Présentation du Nouvel XPS de l’institut des matériaux de Nantes Jean Rouxel performance et premiers résultats sur un metal avec une couche d’oxyde en surface | 
		
		
			| 8 | 
			Fournier Marine 
			Micro-jet liquide plat : nouvelles perspectives pour l’étude des dommages générés sur l’ADN par irradiation dans le domaine des Rayons-X mous | 
		
		
			| 9 | 
			Frégnaux Mathieu 
			Couplage in situ des spectroscopies de photoémission et de photoluminescence : modifications chimiques par faisceau d’ions et recombinaisons de surface | 
		
		
			| 10 | 
			Gauthier Maxime 
			Quantitative investigation of SiC binary layers using Lab-scale Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES) | 
		
		
			| 11 | 
			Georgi Frédéric 
			XPS study on the effect of stray current on formulated lubricants | 
		
		
			| 12 | 
			German Gabriela 
			Chemical vapor deoxidation of aged Cu(In,Ga)Se2 solar absorber | 
		
		
			| 13 | 
			Ghostine Mario 
			Quantification of MoS2 compound using Hard X-ray Photoemission Spectroscopy (HAXPES) | 
		
		
			| 14 | 
			Hajar-Garreau Samar 
			XPS-UPS investigations of phthalocyanine /Co layers and graphene-based electrodes for spin-optoelectronic and optoelectronic devices | 
		
		
			| 15 | 
			Hamon Jonathan 
			Diagramme de structure électronique par XPS pour des systèmes de boites quantiques type CdS sur nanoparticules d’oxydes métalliques TiO2 | 
		
		
			| 16 | 
			Jouanneaud Romain 
			Monitoring InGaN quantum dots growth on GaAs(111)A by droplet epitaxy using Al-Kα and Ag-Lα anodes on lab-based XPS | 
		
		
			| 17 | 
			Jugie Yanis 
			Analyse quantitative des oxydes lamellaires de métaux de transition pour le stockage d’énergie par spectroscopie de photoélectrons mous et durs de laboratoire | 
		
		
			| 18 | 
			Koh Eujin 
			Stoichiometry analysis of HZO for ferroelectric field effect transistor | 
		
		
			| 19 | 
			Koroleva Aleksandra 
			HAXPES and pARXPS for unveiling the physical mechanisms in analog memristors | 
		
		
			| 20 | 
			Krystianiak Anna 
			Modélisation des signaux XPS et HaXPES pour la caractérisation de films minces d’oxydes déposés sur silicium | 
		
		
			| 21 | 
			Layet Jean-Marc 
			Diamant dopé au bore et au phosphore : modification de la structure électronique après exposition à un plasma de deutérium basse pression et son effet sur la production d'ions négatifs | 
		
		
			| 22 | 
			Lecoq Margaux 
			Complémentarité des spectroscopies de photoémission et de photoluminescence pour l’étude d'absorbeurs photovoltaïques | 
		
		
			| 23 | 
			Martinez Eugénie 
			HAXPES versus XPS pour l’analyse d’empilements de couches minces | 
		
		
			| 24 | 
			Mhase Akash 
			Effect of TiN Oxidation on the Ferroelectric Properties and Imprint in Hafnium Zirconium Oxide Capacitors | 
		
		
			| 25 | 
			Mondaca Félix Helí Esaú 
			Probing the dual role of X-rays in perovskite solar cells: characterization tool or degradation source | 
		
		
			| 26 | 
			Sharma Sagar 
			Probing the Catalytic Behavior of Delafossite and Perovskite Thin Films Using NAP-XPS | 
		
		
			| 27 | 
			Silly Mathieu 
			Opportunities for in situ Time-Resolved Photoemission Spectroscopy at the TEMPO Beamline: Investigating Electronic and Chemical Evolution with Temperature | 
		
		
			| 28 | 
			Tchoutezo Songnia N. 
			Advanced XPS Characterization for comprehensive understanding of HfO₂/Al₂O₃/Si and Al₂O₃/HfO₂/Si multilayers |